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LuxVIS Technik

Hochgeschwindigkeits- und hochauflösende- CMOS Kamera für Spectral Imaging Systeme!

Sensor Spezifikationen
Bildsensor CMOS Sensor mit on-chip non-uniformity korrektur
Sensortyp Monochrome
Anzahl lichtempfindliche Pixel 1,310,720 (1280H x 1024V)
Aktive Bildfläche 8,96 mm (H) x 7,17 mm (V) > 2/3"
Pixelabstand 7 x 7 µm
Well Kapazität mehr als 75,000 Elektronen (55,000 linearer Bereich)
Erweiterter Full Well programmierbar bis zu 64,000 Elektronen (linearer Bereich)
Dunkelstrom Signal 787 Elektronen/s @ 21 °C
Sättigungszeit 51 s @ 21 °C
durchschnittlicher Dunkelstrom 255 pA/cm2 @ 21 °C
Blooming Unterdrückung 1 x 10^5
Smear kein
Dynamik std. 68 dB (55,000 / 20 = 2750 : 1) linear, 70 dB erweitert linear , 73 dB erweiterter Dynamikbereich 100 dB im Limited Exposure Technology (LET) modus
Graustufen 12 Bit oder 4096 Graustufen
Shutter On-chip Shutter elektronisch, rolling curtain. Shutter Synchronisierung softwaregesteuert oder über Kabelanschluß
Max. Belichtungszeit 2 s mit vernachlässigbarem Dunkelstromeffekt @ 21 °C, 10 s mit 20 % Dunkelstromeffekt @ 21 °C, längere Belichtungszeiten möglich bis zur Sensorsättigung (ohne Dunkelstromkorrektur)
Min. Belichtungszeit 2 Linen, typ. 270 µs bei 10 MHz
On-board Speicher 8 Mbyte
FPGA (Field program. Gate Array) ja
Interface Spezifikationen
Interfacetyp
Kabellänge USB 2.0
Ferntrigger
 USB 2.0, Steckverbinder
IP 65 max. 5 m
a.A.
Mechanische Spezifikation
Abmaße
Gehäuse
Objektivadapter
Stativanschluss
 (D) 90 mm x (L) 130 mm (H) 98 mm (B) 95 mm
Pulverbeschichtetes Aluminium, POM schwarz
C-mount Standard, Edelstahl
¼" mount; Schienenmontage Industrieprofile
Umgebungsbedingungen
Betriebstemperatur
Lagertemperatur
 0 °C to +60 °C
-30 °C to + 80 °C nicht kondensierend
Spektrale Empfindlichkeit im NIR Bereich: LuxVIS
Spektrale Empfindlichkeit im VIS Bereich: LuxVIS
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